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产品编号:OG-silicon wafer
产品简介: 单晶硅是综合性价比优良的红外光学材料,用来制作红外光学镜片,主要应用于热成像系统、前视红外、移动传感器等高技术领域。单晶硅还是优良的激光放射镜材料,相比较于其他反射镜材料如铜、钼等,单晶硅由于其良好的导热性、优良的热稳定性、较低的热膨胀系数以及密度相对较低、成本低、易于精密加工等优势,目前是二氧化碳激光反射镜首选的基底材料。
光学特性:
直拉单晶硅(CZ)在9.1μm有强烈的氧吸收峰,用作透射级材料时,主要用于第一个红外光学窗口3-5μm波段。直拉单晶硅元件厚度对1.2-6.7μm波段的光学透过率影响不大,其平均红外透过率超过50%。
区熔单晶硅(FZ)由于其含氧量远低于直拉单晶硅(CZ),其红外透过率曲线比较平直,可以用于第二个红外窗口7-14μm波段,此波段元件的厚度成为影响光学透过率的关键参数,厚度<1mm的硅片,平均的光学透过率超过50%。
光学特性参数:
透射光波段: 1.2-15μm
折射率 : 3.4223(5μm波段)
反射损失 : 51.0%(5μm波段,两面)
吸收系数 : 1x10-3cm-1(3μm波段)
dN/dT : 160x10-6/℃
dN/dμ : 10.4μm
产品规格:
晶体生长方式分类:直拉单晶硅(CZ) 区熔单晶硅(FZ)
晶体的晶向分类 : 100 111
掺杂元素型号分类: N型 P型
纯度 : >99.999%(5N)
电阻率 : 1-100Ω·cm
形状 : 任意定制
光学级单晶硅不仅对材料的纯度要求很高,对材料的加工精度也同样要求严苛。我司基于长期的加工经验和精密的加工设备、良好的检测手段,能够加工各种形状、精度要求极高的硅光学部件,能够满足各种严苛的使用要求。